Анализатор оптического спектра OEOSA-100-2000
- Длина волны 2000+/-20 нм
- Диапазон сканирования до 120 нм
- Оптическое разрешение 5 пм
- Динамический диапазон > 45 дБ
- Встроенный перестраиваемый лазер
Описание
OEOSA-100 представляет собой мощное решение с высоким разрешением, низким уровнем шума и низкой стоимостью для измерения оптических параметров пассивных волоконных компонентов. Это продукт «два в одном», который также можно использовать в качестве перестраиваемого лазерного источника с узкой полосой генерации. OEOSA-100 доступен для различных центральных длинах волн, включая 1060, 1550 и 2000 нм, с широким диапазоном сканирования до 120 нм и разрешением менее 5 пм. Встроенный перестраиваемый лазерный источник (TLS) и измеритель мощности также можно использовать по отдельности с помощью удобного ПО и интерфейса USB. OEOSA-100 — это недорогое решение для систем тестирования, измерения и опроса пассивных волоконно-оптических компонентов.
Технические характеристики
Центральная длина волны | 2000+/-20 нм |
Диапазон сканирования | 120 нм |
Оптическое разрешение | < 5 пм |
Точность определения длины волны (макс.) | +/- 20 пм |
Динамический диапазон | > 45 дБ |
Частота сканирования | 4 Гц |
Пользовательский интерфейс | USB |
Тип оптического разъема | FC/APC, FC/PC, SC/PC, SC/APC |
Параметры встроенного перестраиваемого лазера | |
Оптическая мощность | > 5 мВт |
SMSR | > 50 дБ |
Тип поляризации | произвольная или линейная |
О производителе
O/E LAND INC. — один из лидеров североамериканского рынка лазерных систем и широкополосных источников излучения, построенных на принципе усиления оптического излучения в легированных оптических волокнах. Компания специализируется на производстве волоконных Брэгговских решеток, датчиков ВБР и измерительных систем для их опроса, фазовых масок, широкополосных ASE-источников, непрерывных и импульсных волоконных лазеров, линзированных волокон, волоконных матриц, драйверов лазерных диодов, миниатюрных температурных камер, элементов системы оптической накачки, пассивных волоконно-оптических компонентов, устройств управления параметрами излучения, а также других элементов микрооптики и оптоэлектроники.