Описание
Оптический толщинометр SM230 — это автоматический картограф толщины тонких пленок, разработанный на основе принципа оптической интерференции отраженного света в тонких пленках. Устройство рассчитано на работу в широком диапазоном спектра от 200 до 1700нм с вертикальным направлением падения пучка излучения на поверхность пленки. SM230 может рассчитать толщину тонкой пленки в соответствии с отраженным интерференционным спектром, а также другими оптическими константами, такими как коэффициент отражения, показатель преломления, коэффициент экстинкции и т. д., Диапазон измеряемых значений толщин может достигать 5 нм ~ 250 мкм. Автоматическое устройство для картирования толщины оптических тонких пленок SM230 состоит из аналитического блока для съемки и картирования, платформы для крепления и перемещения образца, оптического зонда Y-типа, источника излучения и программного обеспечения.


