Система тестирования источников излучения
[vc_row][vc_column][woodmart_title size=»small» style=»underlined» title=»Система измерения фотометрических характеристик светодиодных источников и ламп» woodmart_css_id=»62445e53cd91e» title_width=»100″ title_font_size=»eyJwYXJhbV90eXBlIjoid29vZG1hcnRfcmVzcG9uc2l2ZV9zaXplIiwiY3NzX2FyZ3MiOnsiZm9udC1zaXplIjpbIiAud29vZG1hcnQtdGl0bGUtY29udGFpbmVyIl19LCJzZWxlY3Rvcl9pZCI6IjYyNDQ1ZTUzY2Q5MWUiLCJkYXRhIjp7ImRlc2t0b3AiOiIxNXB4In19″][vc_column_text text_larger=»no»]Измерительный комплекс предназначен для анализа основных параметров источников излучения видимого и ближнего ИК диапазона (350-1050 нм*): светодиодов, светодиодных модулей и небольших ламп, компактных люминесцентных ламп и ламп накаливания. Интерфейс программы может быть как полностью русскоязычным, так и англоязычным. Система также может … Читать далее