Анализатор оптического спектра OEOSA-100-2000

Длина волны 2000+/-20 нм
Диапазон сканирования до 120 нм
Оптическое разрешение 5 пм
Динамический диапазон > 45 дБ
Встроенный перестраиваемый лазер

Количество

шт

Под заказ

OEOSA-100 представляет собой мощное решение с высоким разрешением, низким уровнем шума и низкой стоимостью для измерения оптических параметров пассивных волоконных компонентов. Это продукт «два в одном», который также можно использовать в качестве перестраиваемого лазерного источника с узкой полосой генерации. OEOSA-100 доступен для различных центральных длинах волн, включая 1060, 1550 и 2000 нм, с широким диапазоном сканирования до 120 нм и разрешением менее 5 пм. Встроенный перестраиваемый лазерный источник (TLS) и измеритель мощности также можно использовать по отдельности с помощью удобного ПО и интерфейса USB. OEOSA-100 — это недорогое решение для систем тестирования, измерения и опроса пассивных волоконно-оптических компонентов.

Технические характеристики

Центральная длина волны	2000+/-20 нм
Диапазон сканирования	120 нм
Оптическое разрешение	< 5 пм
Точность определения длины волны (макс.)	+/- 20 пм
Динамический диапазон	> 45 дБ
Частота сканирования	4 Гц
Пользовательский интерфейс	USB
Тип оптического разъема	FC/APC, FC/PC, SC/PC, SC/APC
Параметры встроенного перестраиваемого лазера
Оптическая мощность	> 5 мВт
SMSR	> 50 дБ
Тип поляризации	произвольная или линейная

;O/E LAND INC. - один из лидеров североамериканского рынка лазерных систем и широкополосных источников излучения, построенных на принципе усиления оптического излучения в легированных оптических волокнах. Компания специализируется на производстве волоконных Брэгговских решеток, датчиков ВБР и измерительных систем для их опроса, фазовых масок, широкополосных ASE-источников, непрерывных и импульсных волоконных лазеров, линзированных волокон, волоконных матриц, драйверов лазерных диодов, миниатюрных температурных камер, элементов системы оптической накачки, пассивных волоконно-оптических компонентов, устройств управления параметрами излучения, а также других элементов микрооптики и оптоэлектроники.