Комплексные решения в области фотоники и оптоэлектроники
+7 (812) 565-60-60
Работаем по России и странам
Таможенного Союза
Таможенного Союза
Пн - Пт 9:00 - 18:00 (Мск)
Новости
Выставка Фотоника 2023: мир лазеров и оптики
06.03.2023
Система тестирования источников излучения
31.03.2022
Оптический микротолщинометр SM280
- Измеряемая толщина 10нм - 100мкм
- Точность измерения ±2 нм (<0,2%)
- Размер образца 1 - 300 мм
- Диапазон сканирования 150мм*360°
- Размер пятна излучения 1 - 100 мкм
1 ₽
Количество
шт
- Производитель Optosky
Оптический толщинометр SM280 — это автоматический микроскопический картограф толщины тонких пленок, разработанный на основе принципа оптической интерференции отраженного света в тонких пленках. Устройство рассчитано на работу в широком диапазоном спектра от 200 до 1700нм с вертикальным направлением падения пучка излучения на поверхность образца. SM280 может рассчитать толщину тонкой пленки в соответствии с отраженным интерференционным спектром, а также другими оптическими константами, такими как коэффициент отражения, показатель преломления, коэффициент экстинкции и т. д., Диапазон измеряемых значений толщин может достигать 10 нм 100 мкм. В автоматическом картографе толщины пленки SM280 используется микроскопическая система, которая может еще больше уменьшить размер пятна излучения, тем самым достигая очень хорошего пространственного разрешения. В то же время SM280 имеет интегрированную конструкцию, состоящую из высокочувствительного спектрометра с высоким разрешением и высокоточного 3-осевого позиционера. В сочетании с уникальным алгоритмом обработки данных устройство позволяет пользователям точно измерять толщину пленки в автоматическом режиме и производить картирование с высоким пространственным разрешением.
Принцип работы
ПО для ПК
Технические характеристики
|
SM280 Автоматический микроскопический картограф толщины пленки
 |
||||||
| Модель | SM280-UV | SM280-UVX | SM280 | SM280-EXR | ||
| Основные Характеристики | ||||||
| Спектральный диапазон | 200-1000нм | 200-1700нм | 400-1000нм | 400-1700нм | ||
| Источник излучения | Галоген-дейтериевая лампа | Вольфрам-галогеновая лампа | ||||
| Характеристики измерения | ||||||
| Диапазон измеряемой толщины (зависит от материала) | 5-кратный объектив | / | / | 20нм-40мкм | 20 нм-100 мкм | |
| 10-кратный объектив | / | / | 20 нм-30 мкм | 20нм-70ум | ||
| 15-кратный объектив | 10 нм-30 мкм | 10 нм-100 мкм | 20нм-40 мкм | 20нм-80мкм | ||
| 50-кратный объектив | / | / | 20 нм-1 мкм | 20 нм-2 мкм | ||
| Точность измерения (зависит от материала) | ±2нм или 0,2% | |||||
| Угол падения излучения | 90° | |||||
| Кол-во слоев пленки | 1~3 | |||||
| Образец материала | Прозрачная или полупрозрачная пленка | |||||
| Режим измерения | Одноточечные/многоточечные/автоматические измерения | |||||
| Размер освещаемого участка (диаметр) | объектив |
Гиперспектральный микроскоп 400–1000 нм
1 ₽
шт
Гиперспектральный микроскоп SWIR-диапазона
1 ₽
шт
Рамановский микроскоп ATR8300MP
1 ₽
шт
Рамановский микроскоп ATR8500
1 ₽
шт
| ||||