+7 (812) 565-60-60
support@i-photonics.ru
Работаем по России и странам
Таможенного Союза
Пн - Пт 9:00 - 18:00 (Мск)
Новости
Оптический толщинометр ATGX310

Оптический толщинометр ATGX310

  • Измеряемая толщина 1нм - 250мкм
  • Разрешение по толщине 0.1 нм
  • Повторяемость < 1 нм
  • Количество слоев до 10
  • Скорость измерения мин. 1 мс
1 ₽
Количество
шт
  • Производитель Optosky

ATGX310 - это серия оптических тощинометров для лабораторных исследований тонких пленок. Представляет собой простую конструкцию с выносным оптическим зондом для точечного измерения толщины прозрачных/полупрозрачных пленок из различных материалов. Конструкция устройства состоит из дейтерий-галогенового или вольфрам-галогенового источника излучения, высокочувствительного спектрометра и оптического зонда Y-типа, работающего на принципе детектирования отраженного от слоев пленки интерференционного сигнала. 

Применение:
  • Оптическая система измерения толщины тонкой пленки может применяться в полупроводниковой промышленности, тестирования ЖК-дисплеев, TFT, PDP, светодиодов, сенсорных экранов, автомобильных ламп, медицины, солнечной энергии, полимеров, стекла и т. д.
  • Тестирования свойств солнцезащитных покрытий
  • Различные оптические элементы, фильтры и т.д.
  • Плоское стекло, пластиковое изделие
  • Дисплей мобильного телефона, LCD
  • Другие прозрачные или полупрозрачные материалы

Технические характеристики

Модель ATGX310-VIS ATGX310-XR ATGX310-DUV ATGX310-NIR
Рабочий диапазон спектра 400-850нм 250-1060нм 190-1100нм 900-1700нм
Диапазон измеряемой толщины 50 нм-20 мкм 10 нм-100 мкм 1 нм-100 мкм 100 нм-250 мкм
Разрешение по толщине 0,1 нм 0,1 нм 0,1 нм 0,1 нм
Повторяемость 0,3 нм 0,3 нм 0,3 нм 1,0 нм
Угол падения излучения 90° 90° 90° 90°
Количество слоев пленки До 10 слоев До 10 слоев До 10 слоев До 10 слоев
Образец Прозрачная или полупрозрачная пленка Прозрачная или полупрозрачная пленка Прозрачная или полупрозрачная пленка Прозрачная или полупрозрачная пленка
Режим измерения точечный, отражение/пропускание точечный, отражение/пропускание точечный, отражение/пропускание точечный, отражение/пропускание
Грубое измерение толщины пленки Да Да Да Да
Минимальная скорость измерения  1 мс 1 мс 1 мс 1 мс
Размер освещаемого участка 200 мкм / 400 мкм 200 мкм/400 мкм 200 мкм/400 мкм 200 мкм/400 мкм
Диапазон сканирования по поверхности 150ммX300мм 150ммX300мм 150ммX300мм 150ммX300мм
Тип позиционера &
Оптический толщинометр ATGX310
1 ₽
Под заказ

Гиперспектральный микроскоп 400–1000 нм

1 ₽
Производитель
Optosky
  • Спектр. диапазон 400-1000 нм
  • Спектральное разрешение < 3 нм
  • Пространств. разрешение <2 мрад
  • Размер изображения 7,8 мм × 14,2 мм
  • Разрешение камеры 5 МП
шт

Гиперспектральный микроскоп SWIR-диапазона

1 ₽
Производитель
Optosky
  • Спектральный диапазон 1000-1700 нм
  • Спектральное разрешение < 35 нм
  • Увеличение объектива: Стандартное: 4X, 10X, 20X; Дополнительно: 40X, 100X.
шт

Рамановский микроскоп ATR8300MP

1 ₽
Производитель
Optosky
  • Рабочий диапазон 200-4300 см-1
  • Оптическое разрешение 4 см-1
  • Площадь сканирования 5 X 5 см
  • Индуцирующее излучение 785 нм (базовая версия)
  • Скорость сканирования < 10 c
шт

Рамановский микроскоп ATR8500

1 ₽
Производитель
Optosky
  • Рабочий диапазон 200-3500 см-1
  • Оптическое разрешение 3 см-1
  • Площадь сканирования 5 X 5 см
  • Трехдиапазонное индуцирование
  • Скорость сканирования < 10 c
шт
Войти Регистрация
Корзина 0 позиций
на сумму 0 ₽