
| Модель | SM200-LUV | SM200-HUV | SM200 | SM200-NIR |
| Основные Характеристики | ||||
| Спектральный диапазон | 200нм-1000нм | 200нм-1000нм | 400нм-1000нм | 900нм-1700нм |
| Источник света | Галогенная лампа дейтерия | Вольфрамовая галогенная лампа | ||
| Характеристики измерения | ||||
| Диапазон толщины1 | 1 нм-10 мкм | 1 нм ~ 30 мкм | 20нм-60мкм | 100 нм-250 мкм |
| Точность2 | ±2нм ≤ 0,2% | ±3 нм ≤ 0,4% | ||
| Угол падения | 90° | |||
| Слои толщины пленки | 1~3 | |||
| Образец материала | Прозрачная или полупрозрачная пленка | |||
| Режим измерения | Одноточечные/многоточечные/автоматические измерения | |||
| Размер пятна3 | 2 мм | |||
| Размер образца | Диаметр от 1 мм до 300 мм и более | |||
| Базовые требования | ||||
| Операционная система | Windows10/11 | |||
| Индикатор | Индикация дейтериевой лампой, индикация галогенной лампой | Галогенная лампа индикации | ||
| Кнопка | Кнопки питания, дейтериевые лампы, галогенные лампы | Кнопка питания, галогенная лампа | ||
| Внешний интерфейс | Розетка, USB 2.0, RJ45 | |||
| Сканирующая платформа | Вращение + перемещение по оси X | |||
| Подвижный ход | 150мм*360° | |||
| Материал | Алюминиевый сплав | |||
| Источник питания | 100~240 В переменного тока, 50~60 Гц | |||
Гиперспектральный микроскоп 400–1000 нм
1 ₽
шт
Гиперспектральный микроскоп SWIR-диапазона
1 ₽
шт
Рамановский микроскоп ATR8300MP
1 ₽
шт
Рамановский микроскоп ATR8500
1 ₽
шт
| ||||