ИНТЕХ Лайтинг ИНТЕХ Лайтинг
Комплексные решения в области фотоники и оптоэлектроники
ИНТЕХ Лайтинг ИНТЕХ Лайтинг
Комплексные решения в области
фотоники и оптоэлектроники
Работаем по России и странам
Таможенного Союза

Пн - Пт 9:00 - 18:00 (Мск)
Заказать звонок
 +7 (812) 416-34-10
 support@i-photonics.ru
Меню
custom-icon 0 items / $0
Каталог
  • Лазерные диоды
  • Лазерные системы

    Непрерывные лазеры

    Импульсные лазеры

    • Диодные лазеры
      • Мощные лазеры
      • Перестраиваемые лазеры
      • Узкополосные лазеры
      • Компактные лазеры
      • Высокостабильные лазеры
      • Многоканальные лазеры
      • Системы оптической накачки
    • Волоконные лазеры
      • Мощные лазеры
      • Перестраиваемые лазеры
      • Узкополосные лазеры
      • Рамановские лазеры
    • Твердотельные лазеры
      • Мощные DPSS лазеры
      • Перестраиваемые DPSS лазеры
      • Узкополосные DPSS лазеры
      • Компактные DPSS лазеры
    • Диодные лазеры
      • Пикосекундные лазеры
      • Субнаносекундные лазеры
    • Волоконные лазеры
      • Наносекундные лазеры
      • Пикосекундные лазеры
      • Фемтосекундные лазеры
      • Перестраиваемые лазеры
    • Твердотельные лазеры
      • Наносекундные лазеры
      • Субнаносекундные лазеры
      • Пикосекундные лазеры
      • Фемтосекундные лазеры
      • Перестраиваемые лазеры

  • Широкополосные источники излучения

    • Симуляторы солнечного излучения
      • Солнечные симуляторы для научных исследований
      • Промышленные солнечные симуляторы
      • Солнечные симуляторы полного отражения
      • УФ солнечные симуляторы
      • Солнечные симуляторы большой площади
      • Солнечные симуляторы с высокой коллимацией
      • Солнечные симуляторы импульсного типа
    • Источники излучения на основе дуговых ламп
      • Источники с пространственным выводом излучения
      • Компактные источники с волоконным выводом излучения
    • Перестраиваемые источники монохроматического излучения
    • ASE-источники излучения
    • Источники суперконтинуума
      • Источники суперконтинуума непрерывного типа
      • Источники суперконтинуума импульсного типа
    • Суперлюминесцентные источники излучения (SLD)
    • Светодиодные источники (LED)
      • Светодиодные модули

  • Устройства управления параметрами излучения

    • Электрооптические модуляторы
    • Акустооптические модуляторы
    • Аттенюаторы
    • Переключатели каналов
    • Перестраиваемые оптические фильтры
    • Линии задержки
    • Оптические усилители

  • Одноканальные фотодетекторы

    • PIN фотодетекторы
    • Фотодетекторы с усилителем
    • Балансные фотодетекторы
    • Детекторы однофотонного излучения
    • Позиционно-чувствительные фотодетекторы
    • Фотодиоды
      • PIN фотодиоды с большой активной областью
      • Быстродействующие фотодиоды
      • Лавинные фотодиоды с большой активной областью

  • Детекторы изображения и камеры

    • Матричные фотоприемные устройства (МФПУ)
      • КМОП/ПЗС сенсоры
      • МФПУ коротковолнового ИК диапазона (SWIR)
      • МФПУ средневолнового ИК диапазона (MWIR)
      • МФПУ длинноволнового ИК диапазона (LWIR)
    • Камеры ИК диапазона
      • Камеры коротковолнового ИК диапазона (SWIR)
      • Камеры средневолнового ИК диапазона (MWIR)
      • Камеры длинноволнового ИК диапазона (LWIR)
    • Камеры видимого диапазона
      • Камеры для машинного зрения и систем видеонаблюдения
      • Высокочувствительные камеры для научных применений (sCMOS/iCCD/iCMOS)
      • Гиперспектральные камеры

  • Аналитическое оборудование
    • Оборудование для спектроскопии
      • Компактные спектрометры
      • Спектрографы-монохроматоры
      • Флуоресцентные спектрометры
      • Рамановские спектрометры
      • Системы лазерно-искровой спектроскопии
      • ИК Фурье-спектрометры
      • Терагерцовые спектрометры
      • Фотодетекторы для спектроскопии
      • Устройства сбора и обработки сигнала
      • Вспомогательные элементы
    • Оборудование для фотометрии
      • Компактные спектрометры UPRtek
      • Спектрорадиометры с фотометрическим шаром
      • Спектрофотометры
    • Оборудование для лазерной метрологии
      • Анализаторы оптического спектра
      • Устройства для измерения оптической мощности
      • Устройства для анализа профиля лазерного пучка
    • Оборудование для фотовольтаики
      • Системы измерения ВАХ солнечных элементов
      • Системы измерения квантовой эффективности фотоэлементов
    • Оборудование для микроскопии
      • Рамановские микроскопы
      • Микроспектрофотометры
      • Гиперспектральные микроскопы
      • Толщинометры
    • Оборудование для рефлектометрии
      • Анализаторы оптического спектра
      • Интеррогаторы
  • Технологическое оборудование

    • Технологическое оборудование для волоконной оптики
      • Аппараты для сварки оптических волокон
    • Технологическое оборудование для оптоэлектроники и интегральной фотоники
      • Автоматические установки посадки чипов
      • Автоматические установки разварки чипов
      • Автоматические установки сортировки чипов
      • Системы лазерной резки и скрайбирования

  • Оптические компоненты

    • Оптические элементы
      • Линзы
      • Фильтры
      • Зеркала
      • Окна
      • Призмы
      • Делители
      • Лазерная оптика
      • Дифракционная оптика
      • Поляризационная оптика
      • Прецизионная оптика
    • Пассивные волоконно-оптические компоненты
      • Специальные оптические волокна
      • Делители/объединители
      • Компоненты волоконных лазеров
      • WDM компоненты
      • Циркуляторы
      • Изоляторы
      • Поляризаторы
      • In-line фильтры
      • Коллиматоры
      • Оптические кабели и зонды
      • Брэгговские решетки
    • Оптомеханические компоненты
      • Оптические столы и плиты
      • Оптические рельсы и платформы
      • Линейные трансляторы
      • Поворотные трансляторы
      • Наклонные трансляторы
      • Гониометры
      • Домкраты
      • Многоосевые трансляторы
      • Юстировщики оптических волокон
      • Моторизированные трансляторы
      • Держатели и крепления
      • Сверхточные пьезопозиционеры

  • Материалы

    • Полупроводниковые материалы
      • Подложки Si
      • Подложки Ge
      • Подложки SiC
      • Подложки группы A3B5
      • Подложки группы A2B6
      • Керамические подложки
    • Сверхчистые материалы
      • Металлы
      • Оксиды
      • Сплавы
    • Кристаллы
      • Лазерные кристаллы
      • Нелинейные кристаллы
      • Электро-оптические кристаллы
      • Сцинтилляционные кристаллы
      • Двулучепреломляющие кристаллы
      • Магнито-оптические кристаллы
    • Технологическая оснастка
      • Тигли
      • Лодки
      • Филаменты
    • Мишени для напыления
      • Металлы
      • Сплавы
      • Оксиды
      • Сульфиды
      • Селениды
      • Бориды
      • Карбиды
      • Силициды
      • Теллуриды
      • Нитриды
      • Фториды

  • О компании
  • Новости
  • Услуги НИОКР

    Наша компания имеет собственное инжиниринговое подразделение Интех Инжиниринг, которое оказывает следующий спектр работ и услуг:

    • Разработка дизайна полупроводниковых гетероструктур для задач оптоэлектроники
    • Расчет и оптимизация оптических, электрических и тепловых характеристик оптоэлектронных устройств
    • Эпитаксиальный рост светоизлучающих и фотоприемных гетероструктур методом МОСГФЭ
    • Исследование структурных, оптических и фотоэлектрических свойств функциональных материалов методами рентгеновской спектроскопии, люминесценции и фотовольтаики
    • Постростовая обработка эпитаксиальных пластин и разработка дизайна чиповых структур
    • Технологическая линия по монтажу и корпусированию оптоэлектронных устройств, включающая автоматические машины по сортировке, посадке и разварке полупроводниковых кристаллов для устройств светотехники, лазерной оптики и СВЧ электроники
    • Услуги по разработке спектральных и фотометрических аналитических комплексов, а также проведение испытаний источников излучения различных конструкции
    • Поставка, ввод в эксплуатацию, обучение и сервисное обслуживание технологического оборудования для производства устройств оптоэлектроники, СВЧ техники и интегральной фотоники
    Подробнее
    10
  • Контакты
custom-icon 0 items / $0
optosky
ГлавнаяАналитическое оборудованиеОборудование для микроскопииТолщинометры Оптический толщинометр ATGX310

Оптический толщинометр ATGX310

  • Измеряемая толщина 1нм – 250мкм
  • Разрешение по толщине 0.1 нм
  • Повторяемость < 1 нм
  • Количество слоев до 10
  • Скорость измерения мин. 1 мс
Спецификация Спецификация
закрыть
  • Описание
  • Технические характеристики
  • О производителе
Описание

Описание

ATGX310 – это серия оптических тощинометров для лабораторных исследований тонких пленок. Представляет собой простую конструкцию с выносным оптическим зондом для точечного измерения толщины прозрачных/полупрозрачных пленок из различных материалов. Конструкция устройства состоит из дейтерий-галогенового или вольфрам-галогенового источника излучения, высокочувствительного спектрометра и оптического зонда Y-типа, работающего на принципе детектирования отраженного от слоев пленки интерференционного сигнала. 

Применение:

  • Оптическая система измерения толщины тонкой пленки может применяться в полупроводниковой промышленности, тестирования ЖК-дисплеев, TFT, PDP, светодиодов, сенсорных экранов, автомобильных ламп, медицины, солнечной энергии, полимеров, стекла и т. д.
  • Тестирования свойств солнцезащитных покрытий
  • Различные оптические элементы, фильтры и т.д.
  • Плоское стекло, пластиковое изделие
  • Дисплей мобильного телефона, LCD
  • Другие прозрачные или полупрозрачные материалы
Технические характеристики

Технические характеристики

Модель ATGX310-VIS ATGX310-XR ATGX310-DUV ATGX310-NIR
Рабочий диапазон спектра 400-850нм 250-1060нм 190-1100нм 900-1700нм
Диапазон измеряемой толщины 50 нм-20 мкм 10 нм-100 мкм 1 нм-100 мкм 100 нм-250 мкм
Разрешение по толщине 0,1 нм 0,1 нм 0,1 нм 0,1 нм
Повторяемость 0,3 нм 0,3 нм 0,3 нм 1,0 нм
Угол падения излучения 90° 90° 90° 90°
Количество слоев пленки До 10 слоев До 10 слоев До 10 слоев До 10 слоев
Образец Прозрачная или полупрозрачная пленка Прозрачная или полупрозрачная пленка Прозрачная или полупрозрачная пленка Прозрачная или полупрозрачная пленка
Режим измерения точечный, отражение/пропускание точечный, отражение/пропускание точечный, отражение/пропускание точечный, отражение/пропускание
Грубое измерение толщины пленки Да Да Да Да
Минимальная скорость измерения  1 мс 1 мс 1 мс 1 мс
Размер освещаемого участка 200 мкм / 400 мкм 200 мкм/400 мкм 200 мкм/400 мкм 200 мкм/400 мкм
Диапазон сканирования по поверхности 150ммX300мм 150ммX300мм 150ммX300мм 150ммX300мм
Тип позиционера xy Сканирующая платформа xy Сканирующая платформа xy Сканирующая платформа xy Сканирующая платформа
О производителе

О производителе

OptoskyКомпания Optosky – один из мировых лидеров в производстве первоклассных решений для спектроскопии. Научно-исследовательские и производственные подразделения компании занимают площадь более 5000 квадратных метров, а численность сотрудников превышает 200 человек. Среди основных видов выпускаемой продукции – компактные волоконные USB спектрометры, носимые рамановские спектрометры, полевые спектрорадиометры, ИК Фурье-спектрометры, комплексы формирования гиперспектрального изображения, системы LIBS и флуоресцентного анализа. Брэнд Optosky по праву является одним из самых узнаваемых и уважаемых в области оптической метрологии. Качество продукции компании подтверждено многочисленными положительными отзывами от ведущих промышленных компаний и научных центров, а также множеством объектов инновационной интеллектуальной собственности, авторскими правами на программное обеспечение, международными квалификационными сертификатами и наградами. Компания получила более 26 IP, 35 инновационных патентов и 32 авторских права на свою продукцию.

Компания Интех Лайтинг является официальным представителем компании Optosky на территории России и Стран Таможенного Союза и предлагает наиболее выгодные условия поставки, официальную сертификацию продукции и всю необходимую техническую поддержку.

 

Категория: Толщинометры

Похожие товары

optosky
Закрыть

Оптический микротолщинометр SM280

Optosky
  • Измеряемая толщина 10нм - 100мкм
  • Точность измерения ±2 нм (<0,2%)
  • Размер образца 1 - 300 мм
  • Диапазон сканирования 150мм*360°
  • Размер пятна излучения 1 - 100 мкм
Спецификация Спецификация
Добавить в корзину
Быстрый просмотр
optosky
Закрыть

Оптический толщинометр SM230

Optosky
  • Измеряемая толщина 5нм-250мкм
  • Точность измерения < 0.4%
  • Размер образца 1 - 300 мм
  • Диапазон сканирования 150мм*360°
  • Количество слоев пленки 1-3
Спецификация Спецификация
Добавить в корзину
Быстрый просмотр

ООО «Интех Лайтинг» поставщик лазерных и светодиодных источников излучения, фотоэлектрических преобразователей и оптических модуляторов, контрольно-измерительного и технологического оборудования, комплектующих и материалов для высокотехнологичных областей науки и промышленности.
Мы оказываем услуги научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ (НИОКР) в области оптоэлектроники и оптической метрологии.

  • О компании
  • Новости
  • Услуги НИОКР
  • Контакты

196105, Россия, г. Санкт-Петербург, ул. Свеаборгская д.12, лит. А, пом. 54H

 +7 (812) 416-34-10

 support@i-photonics.ru

© ООО «ИНТЕХ Лайтинг»

Политика конфиденциальности

Корзина

закрыть
Заказать звонок

    Пожалуйста, докажите, что вы человек, выбрав ключ.

    • Меню
    • Разделы
    • О компании
    • Новости
    • Услуги НИОКР
    • Контакты
    • Лазерные диоды
    • Лазерные системы
    • Широкополосные источники излучения
    • Устройства управления параметрами излучения
    • Одноканальные фотодетекторы
    • Детекторы изображения и камеры
    • Аналитическое оборудование
    • Технологическое оборудование
    • Оптические компоненты
    • Материалы
    Sidebar Scroll To Top
    Мы используем файлы cookie, чтобы вам было удобнее пользоваться нашим сайтом. Просматривая этот сайт, вы соглашаетесь на использование файлов cookie.
    Принять