+7 (812) 565-60-60
Работаем по России и странам
Таможенного Союза
Пн - Пт 9:00 - 18:00 (Мск)
Пластина диффузного отражения - STD-WS

Пластина диффузного отражения - STD-WS

1 ₽
Количество
шт
Стандартная пластина диффузного отражения Wenyi Optoelectronics имеет широкий спектр применения и может быть объединена со спектрометром и источником света компании для создания системы для измерения коэффициента отражения различных образцов. Подходит для измерения различных образцов, таких как отражательная способность шероховатой поверхности образца, керамики, матового стекла, пластика и т. д. Стандартная белая доска является стандартным эталоном коэффициента диффузного отражения для измерения коэффициента отражения. Стандартная белая доска Wenyi Optoelectronics обрабатывается и полируется высококачественным импортным материалом PTFE, который особенно подходит для широкого спектрального диапазона ультрафиолетового, видимого и ближнего инфракрасного (200-2500 нм) и может обеспечить отражательную способность более 98% Полный спектр Это один из необходимых аксессуаров для спектральных измерений. Когда свет падает на поверхность доски, поверхность материала создает ламбертовские отражения. Свет рассеивается равномерно. Доска внешне встроена в коробку из анодированного алюминия и имеет резьбовую крышку. Он обладает водостойкими характеристиками и хорошей стабильностью, и это не проблема при применении глубокого УФ-излучения.

Технические характеристики

Группа: 200-2500 нм;
размер: Внешние размеры: диаметр 38 мм, высота 11,5 мм, внутренние размеры: внешний диаметр 30 мм, толщина 6,0 мм, высота отражателя 8,0 мм при использовании
Светоотражающий материал: Импортный материал ПТФЭ;
масса: 27г;
оболочка: Высокопрочный алюминиевый корпус, корпус из анодированного алюминия и завинчивающаяся крышка для защиты;
Отражательная способность: 250-1500 нм, >98%, 250-2200 нм, >95%;
Пластина диффузного отражения - STD-WS
1 ₽

Гиперспектральный микроскоп 400–1000 нм

1 ₽
Производитель
Optosky
  • Спектр. диапазон 400-1000 нм
  • Спектральное разрешение < 3 нм
  • Пространств. разрешение <2 мрад
  • Размер изображения 7,8 мм × 14,2 мм
  • Разрешение камеры 5 МП
шт

Система измерения квантовой эффективности методом SSP (PTS-4-SSP)

1 ₽
Производитель
Sciencetech Inc.
  • Рабочий диапазон 250-2500 нм
  • Размер образца 5x5 см
  • Измеряемый фототок 10пА-1А
шт
Войти Регистрация
Корзина 0 позиций
на сумму 0 ₽