Комплексные решения в области фотоники и оптоэлектроники
+7 (812) 565-60-60
Работаем по России и странам
Таможенного Союза
Таможенного Союза
Пн - Пт 9:00 - 18:00 (Мск)
Новости
Выставка Фотоника 2023: мир лазеров и оптики
06.03.2023
Система тестирования источников излучения
31.03.2022
Рентгенофлуоресцентный анализатор ATX3650
- Оптимальная точность RSD≤0,1%
- Оптимальное разрешение 129 эВ ±5 эВ
- Детектор SDD-зонд Amptek Silicon Drift
- Размер камеры для образцов 400 мм х 340 мм х 80 мм
- Размер вакуумной камеры для образцов Ø100мм×h75мм
1 ₽
Количество
шт
- Производитель Optosky
ATX3650 — это рентгенофлуоресцентный анализатор, в котором используется рентгенофлуоресцентная спектроскопия. Благодаря постоянному развитию технологии рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа использование рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа и обнаружения стало основным средством контроля качества во многих отраслях промышленности.
Рентгенофлуоресцентный анализатор ATX3650 — это высокотехнологичный аналитический прибор, специально предназначенный для цветных металлов, черных металлов, обогащения и плавки, а также геологической промышленности. Этот продукт элегантный и красивый, прочный и долговечный, имеет несколько режимов защиты. Программное обеспечение, оснащенное системой коллимационных фильтров, может автоматически переключаться для выполнения различных тестовых задач. В то же время мы используем собственную систему обработки сигналов SES, многомерную систему охлаждения, систему радиационной безопасности, вакуумную систему и другие технологии для обеспечения безопасности, стабильности и точности продукции.
Программное обеспечение ATX3650 интегрирует различные методы анализа, такие как метод эмпирического коэффициента, метод теоретического альфа-коэффициента, линейную аппроксимацию, квадратичную кривую, коррекцию интенсивности, коррекцию содержания и т. д., чтобы полностью гарантировать точность данных испытаний.
XRF для неразрушающего элементного анализа натрия (Na) через уран (U) - в твердых телах, жидкостях, порошках и тонких пленках - от уровней частей на миллиард (ppb) до 100
%
- Отличная производительность, высокая скорость, хорошая точность и высокая эффективность
- Короткое время тестового анализа (одновременный и точный анализ десятков элементов от 11 натрия (Na) до 92 урана (U) в течение 1-120 секунд)
- Система обработки сигналов SES собственной разработки (цифровая многоканальная) используется для эффективного улучшения соотношения пикового уровня и фона и повышения точности измерений.
- Оптимизировать встроенную конструкцию рассеивания тепла, чтобы значительно улучшить характеристики рассеивания тепла всей машины и обеспечить безопасность работы источника рентгеновского излучения.
- Множественная радиационная защита, уровень радиационной защиты относится к самому высокому уровню аналогичных продуктов
- Выберите вакуумную систему, оптимизируйте тестовую среду и повысьте точность анализа легких элементов, таких как магний, алюминий, кремний, фосфор и сера.
- Уникальная технология контроля температуры перемещения обеспечивает безопасную и надежную работу источника излучения, эффективно продлевает срок его службы и снижает стоимость эксплуатации.
Технические характеристики
Packing List
| Товары | Количество | Optional |
| Цифровой многоканальный детектор SDD | 1 | Стандарт |
| источник рентгеновского излучения | 1 | Стандарт |
| Источник питания высокого напряжения | 1 | Стандарт |
| Электронная система электропроводки SNR | 1 | Стандарт |
| Система улучшения оптического пути | 1 | Стандарт |
| 8 коллиматоров + 5 фильтров | 1 | Стандарт |
| Цифровой многоканальный анализатор | 1 | Стандарт |
| Эвакуационные системы | 1 | Стандарт |
| Струйные принтеры брендов | 1 | Стандарт |
| Фирменные компьютеры | 1 | Стандарт |
| Программное обеспечение для полноэлементного флуоресцентного анализа X | 1 | Стандарт |
| Чаша для образцов, предохранитель | 1 | Стандарт |
| Спектроскопически регулируемый источник питания (дополнительно) | 1 | Необязательный |
| Спектроскопическая специальная мельница (опционально) | 1 | Необязательный |
| Спектроскопическая специальная плавильная машина (опционально) | 1 | Необязательный |
| Спектроскопическая специальная мельница (опционально) | 1 | Необязательный |
| Плавленый платиновый тигель (опционально) | 1 | Необязательный |
| Спектрометр специальный таблеточный пресс (опционально) | 1 | Необязательный |
| ATX3650 | |
| Диапазон элементов | XRF для неразрушающего элементного анализа натрия (Na) через уран (U) |
| Обнаружение | в твердых телах, жидкостях, порошках и тонких пленках - от уровней частей на миллиард (ppb) до 100% |
| Диапазон концентрации | ppm-99,99% (разные элементы, разные диапазоны анализа) |
| Элементный анализ | Десятки элементов от натрия (Na) до урана (U) могут быть измерены одновременно |
| Оптимальное разрешение | 129 эВ ± 5 эВ |
| Оптимальная точность | RSD≤0,1% (национальный стандартный образец) |
| Время анализа | Регулируемое время одиночного теста |
| Охлажденный | Электрическое охлаждение без каких-либо расходных материалов |
| Большой размер камеры для образцов | 400 мм х 340 мм х 80 мм |
| Размер вакуумной камеры для образцов | Ø100мм×h75мм |
| Детектор | SDD-зонд Amptek Silicon Drift |
| Рентгеновская трубка | Максимальная мощность 50Вт, напряжение трубки 5-50кВ, ток трубки 0-1000мкА; рентгеновская трубка с длительным сроком службы |
| Источник питания высокого напряжения | Максимальная мощность 50 Вт, напряжение 0-50 кВ, ток 0-1000мкА. 8 часов стабильности≤0,05% |
| Сигнальный процессор | Адаптация к высокому разрешению и высокой скорости счета, саморегулирующееся увеличение, максимальное количество каналов: 4096 |
| Рабочий блок питания | 220 В переменного тока ± 5 В , 50 Гц |
| Рабочая среда | Комнатная температура 15~30°C, относительная влажность ≤80% (без конденсации) |
| Измерение | 700 мм x 510 мм x 336 мм |
Гиперспектральный микроскоп 400–1000 нм
1 ₽
шт
Система измерения квантовой эффективности методом SSP (PTS-4-SSP)
1 ₽
шт
| |