+7 (812) 565-60-60
Работаем по России и странам
Таможенного Союза
Пн - Пт 9:00 - 18:00 (Мск)
Система тестирования источников излучения
Система тестирования источников излучения

Система тестирования источников излучения

• Точность измерения мощности ± 5% • Спектральный диапазон 350–1050 нм • Спектральное разрешение 1.5 нм • Время интегрирования 4 мс–10 с • Точность измерения цветовых координат ± 0.0015
1 ₽
Количество
шт
Программно-аппаратный комплекс предназначен для измерения основных параметров широкополосных источников излучения видимого и ближнего ИК диапазона (350-1050 нм): светодиодов, светодиодных модулей и небольших ламп, компактных люминесцентных ламп и ламп накаливания. В состав измерительного комплекса входит: ноутбук, оригинальное программное обеспечение, компактный спектрометр, оптоволоконный кабель, интегрирующая сфера, источник питания (опционально). Система позволяет измерять следующие параметры излучения: • Спектр излучения • Цветовые координаты (x, y, u, v) • Световой поток • Мощность излучения • Доминантная и пиковая длины волн • Чистота света • Коррелированная цветовая температура • Индекс цветопередачи Измерительный комплекс обладает низким энергопотреблением и способен работать автономно, от аккумулятора ноутбука в течение 2-х часов, что позволяет использовать его для контроля параметров излучения осветительных приборов, непосредственно на объектах, где они установлены.

Технические характеристики

Параметр Значение
Точность измерения оптической мощности ± 5%
Спектральный диапазон 350–1050 нм
Спектральное разрешение (FWHM) 1.5 нм
Время интегрирования 4 мс–10 с
Точность измерения цветовых координат ± 0.0015
Диапазон расчета коррелирующей цветовой температуры 1000–100 000К
Погрешность определения коррелирующей цветовой температуры ± 0,2%
Время работы прибора в автономном режиме до 2-х часов
Диаметр интегрирующей сферы от 30 см до 2 м
;
Система тестирования источников излучения
1 ₽

Гиперспектральный микроскоп 400–1000 нм

1 ₽
Производитель
Optosky
  • Спектр. диапазон 400-1000 нм
  • Спектральное разрешение < 3 нм
  • Пространств. разрешение <2 мрад
  • Размер изображения 7,8 мм × 14,2 мм
  • Разрешение камеры 5 МП
шт

Система измерения квантовой эффективности методом SSP (PTS-4-SSP)

1 ₽
Производитель
Sciencetech Inc.
  • Рабочий диапазон 250-2500 нм
  • Размер образца 5x5 см
  • Измеряемый фототок 10пА-1А
шт
Войти Регистрация
Корзина 0 позиций
на сумму 0 ₽