Рамановский волоконный лазер 2100-2400 нм OEFLS-RM-100-2.3um
- Длина волны 2100-2400 нм
- Оптическая мощность до 10 Вт
- Ширина спектра < 3 нм
- Тип волокна SMF, MMF
- Произвольная поляризация
Описание
OEFLS-RM-100 — это серия рамановских волоконных лазеров непрерывного типа, основанных на принципе стимулированного комбинационного рассеяния (SRS), возникающего при оптической накачки в волоконных волноводах. В зависимости от материала оптического волокна, полосы генерации источника накачки и схемы каскадирования накачки можно выделить несколько модификаций прибора, охватывающих спектральный диапазон от 1090 до 2400 нм. OEFLS-RM-100 — это высокостабильный оптоволоконный источник излучения с высокой оптической мощностью, оптимально подходящий для систем распределенного оптического усиления, тестирования волоконно-оптических компонентов, медицинских применений, оптической сенсорики и научных исследований.
Технические характеристики
Центральная длина волны | 2100-2400 нм |
Выходная оптическая мощность | > 0.5 Вт или 10 Вт |
Ширина спектра (FWHM) | 1 нм или 3 нм |
SMSR | > 25 дБ |
Тип поляризации | произвольная |
Тип волокна | SMF, MMF |
Тип оптического разъема | FC, ST, SC или коллиматор |
Регулировка оптической мощности | по запросу |
Второй оптический выход | по запросу |
Тип системы охлаждения | воздушное |
Рабочая температура | 10 - 50 С |
Габариты (модель - под ключ) | 70x190x310 мм |
О производителе
O/E LAND INC. — один из лидеров североамериканского рынка лазерных систем и широкополосных источников излучения, построенных на принципе усиления оптического излучения в легированных оптических волокнах. Компания специализируется на производстве волоконных Брэгговских решеток, датчиков ВБР и измерительных систем для их опроса, фазовых масок, широкополосных ASE-источников, непрерывных и импульсных волоконных лазеров, линзированных волокон, волоконных матриц, драйверов лазерных диодов, миниатюрных температурных камер, элементов системы оптической накачки, пассивных волоконно-оптических компонентов, устройств управления параметрами излучения, а также других элементов микрооптики и оптоэлектроники.