Анализатор оптического спектра OEOSA-100-1060

  • Длина волны 1060+/-10 нм
  • Диапазон сканирования до 60 нм
  • Оптическое разрешение 5 пм
  • Динамический диапазон > 60 дБ
  • Встроенный перестраиваемый лазер
Спецификация

Описание

OEOSA-100 представляет собой мощное решение с высоким разрешением, низким уровнем шума и низкой стоимостью для измерения оптических параметров пассивных волоконных компонентов. Это продукт «два в одном», который также можно использовать в качестве перестраиваемого лазерного источника с узкой полосой генерации. OEOSA-100 доступен для различных центральных длинах волн, включая 1060, 1550 и 2000 нм, с широким диапазоном сканирования до 120 нм и разрешением менее 5 пм. Встроенный перестраиваемый лазерный источник (TLS) и измеритель мощности также можно использовать по отдельности с помощью удобного ПО и интерфейса USB. OEOSA-100 — это недорогое решение для систем тестирования, измерения и опроса пассивных волоконно-оптических компонентов.

Технические характеристики

Центральная длина волны 1060+/-10 нм
Диапазон сканирования 60 нм
Оптическое разрешение < 5 пм
Точность определения длины волны (макс.) +/- 20 пм
Динамический диапазон > 60 дБ
Частота сканирования 4 Гц
Пользовательский интерфейс USB
Тип оптического разъема FC/APC, FC/PC, SC/PC, SC/APC
Параметры встроенного перестраиваемого лазера
Оптическая мощность > 5 мВт
SMSR > 60 дБ
Тип поляризации произвольная или линейная

 

 

О производителе

O/E LAND INC. — один из лидеров североамериканского рынка лазерных систем и широкополосных источников излучения, построенных на принципе усиления оптического излучения в легированных оптических волокнах. Компания специализируется на производстве волоконных Брэгговских решеток, датчиков ВБР и измерительных систем для их опроса, фазовых масок, широкополосных ASE-источников, непрерывных и импульсных волоконных лазеров, линзированных волокон, волоконных матриц, драйверов лазерных диодов, миниатюрных температурных камер, элементов системы оптической накачки, пассивных волоконно-оптических компонентов, устройств управления параметрами излучения, а также других элементов микрооптики и оптоэлектроники.